光電測試系統的原理及性能特點都有哪些？
光電測試系統利用光學原理進行精密檢測的光學檢測技術與光電變換相結合構成光電檢測技術。光電檢測技術是對光學量及大量非光學物理量轉換成光學量進行測量的重要手段。
該測試系統測量頻率高，它充分發揮了線陣CCD芯片的高頻掃描特性，測量頻率可達普遍在500HZ，高可達2000HZ，高于國內外同類產品。不僅如此其測量精度也是非常高的，它的精度等級高的高頻CCD芯片，像元分辨率4.7UM。與物像比精確的光學系統相結合，全系產品高精度0.003MM，低精度也在0.02MM之內。
光電測試系統的性能特點有：
1、頻域和時域的測試技術，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光電壓衰減，電量抽取和I-V曲線和IPCE測量
2、對有效擴散系數的計算和電子壽命的“自動”數據分析的“一鍵式”操作，適合于對頻域測試技術比較陌生的使用者。
3、帶有NIST可追溯校準文件的光源，并且日常可以對其進行校驗檢查
4、長期穩定的熱效管理的光源
5、提供一系列的高亮度單色LED光源
6、軟件包含全套電化學測試技術，包括：循環伏安(C-V)，恒電壓-電流測試，系列的阻抗測試方法以及交流伏安法
7、輔助分壓功能可用于同時檢測陽極和陰極的阻抗和電壓
8、Solartron Analytical的頻率響應分析（FRA）技術，包含單波，頻率掃描和多波技術兼容ModuLab和ModuLab XM全部功能。
光電測試系統是以激光、紅外、光纖等現代光電子器件為基礎，通過對被檢測物體的光輻射，經光電檢測器接收光輻射并轉換為電信號，由輸入電路、放大濾波等檢測電路提取有用信息，再經模數轉換接口輸入計算機運算處理，之后顯示輸出所需要的檢測物理量等參數。
